兩箱冷熱沖擊氣候試驗箱用于測試原材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在人工模擬的高低溫瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，如此反復沖擊試驗可以在短的時間內(nèi)檢測測試物因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。常用于電子與信息技術(shù)行業(yè)、新材料及應用技術(shù)行業(yè)、制造技術(shù)行業(yè)、航空航天技術(shù)行業(yè)、高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園區(qū)的大中小企業(yè)實驗室、品質(zhì)部、研發(fā)部等部門。

兩箱冷熱沖擊氣候試驗箱技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)箱尺寸W×H×D:360mm×350mm×400mm

內(nèi)箱尺寸W×H×D:500mm×400mm×400mm

內(nèi)箱尺寸W×H×D:600mm×400mm×400mm

內(nèi)箱尺寸W×H×D:600mm×500mm×500mm

內(nèi)箱尺寸W×H×D:700mm×600mm×600mm

溫度范圍：A:-40℃～+150℃;B:-55℃～+150℃;A:-65℃～+150℃

高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃ 

升溫時間：+60℃～200℃≤30min 

低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃ 

降溫時間：+20℃～-75℃≤60min 

加熱系統(tǒng)：鎳鉻合金不銹管加熱器

循環(huán)系統(tǒng)：多翼離心式循環(huán)風扇

試驗標準：

GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

GBT 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GBT 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db： 濕熱循環(huán).

GBT 2423-3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  恒定濕熱

GBT 10592-1989高低溫試驗箱 技術(shù)條件